干涉测量具有极高的精度,在光学测量中占有重要的地位，它以光波长作为测量尺度和测量基准，在光学材料特性参数测试、光学薄膜厚度测试、光学元件特征参数测量、光学系统成像质量检验、精密测量、精密加工等方面有广泛的应用。

项目提出了一种新型干涉测量法，可测量球形表面（例如透镜） 的物理参数，获得曲率半径、顶点位置等信息。其机理是利用现代信号处理和机器学习分析球形表面干涉测量所形成的牛顿环干涉条纹， 从条纹中提取物理信息。

该干涉测量法区别于时间相移干涉仪，无需压电陶瓷（PZT）产生多个相移帧图进行处理。也区别于其它动态干涉仪，无需多台相机或相位掩膜产生多帧图或空间载波技术来完成测量。该干涉测量法可直接对单幅无载波的牛顿环干涉条纹进行分析，无需额外硬件装置即可完成高精度动态测量，获取球形表面的曲率半径等物理参数。解决当前干涉测量方法对图像需求量大、成像要求高、硬件成本高的问题， 同时又具备很好的抗干扰能力，特别是遮挡、灰尘、镜面刮擦、噪声等干扰情况。